안녕하세요, 델타이에스 입니다.
Simcenter Micred T3STER Master 의 신규 버전(2204) 아래와 같이 소개 드립니다.
Simcenter Micred T3STER Master 2204 주요 내용
단일 측정 파일 포맷 지원(.parx)
- 이전 버전인 T3Ster Master 3.1버전 까지는 측정 채널 수에 따라 프로젝트 파일들이 생성되었으며, 파일이 많아지는 경우 데이터를 다운로드하고 처리하는데 번거로움이 있었습니다. 하지만 T3STER Master 2204버전부터는 모든 측정 데이터를 하나의 파일로 저장하는 기능이 지원되어 간편하게 데이터를 처리할 수 있게 되었습니다.
(T3STER SI 장비 사진)
- 새로운 형식의 파일은 동시에 측정된 모든 설정 및 측정 데이터를 하나의 파일로 저장합니다.
- “.parx” 파일은 측정 데이터를 아카이브 형태의 압축파일로 보관하며, 압축을 풀면 기존에 사용하던 파일들을 확인할 수 있습니다. (zip)
- 새 파일 형식을 사용하려면 T3STER Master 코드 베이스의 주요 Refactoring이 필요합니다.
- 새로운 파일 형식 사용으로 측정 및 평가 속도가 상향되었습니다.
- 측정 그래프에서 동일한 채널 결과는 동일한 색상을 가지도록 변경되었습니다.
- 현재는 T3STER SI 에서만 새로운 파일 형식을 생성할 수 있습니다. T3STER SI UI의 Settings -> Other options 메뉴에서 File format 기본 설정을 선택해야 합니다.
새 구조 함수 뷰: “Local Rth function”
- 새 구조 함수 뷰는 로컬 열 저항(Local thermal resistances(Rth))을 누적 열 용량(Cumulative thermal capacitance(ΣCth))의 함수로 표시합니다.
- 이 내용은 Delphi4 LED 프로젝트의 일부로 정의되어 있습니다. (참고, Delphi4LED deliverable D3.6 pp. 18-21)
- 동일한 유형의 여러 샘플에서 측정된 결과를 비교하여 로컬 Rth의 변화를 시각화 할 수 있습니다.
(T3STER Master에서 Structure function을 Local Rth function으로 변경하여 확인)
Simcenter T3STER Master 2204에서 수정된 버그 및 개선사항
- 동일한 Structure function 데이터를 나타내는 두 가지 유형의 구조 함수에서 소수점 0.00x 자리의 미세한 차이에 의해 정확도에 약간의 오차가 있었습니다. 이번 버전부터는 Structure function의 데이터에 소수점 한 자리가 더 계산되어 그래프의 정확도가 증가했습니다.
- T3STER Master에서 특정 프로젝트의 설정을 모든 프로젝트에 일괄 적용하면(모든 프로젝트에 적용 옵션을 사용할 경우) T3STER Master가 충돌하는 현상이 해결되었습니다.
- 프로젝트의 Measured Response 화면에서 Transient Correction 옵션을 사용한 다음 프로젝트에 대해 Clean Project 옵션을 선택한 경우 Measured Response 뷰가 중복되는 문제와 Evaluate Project 옵션을 사용한 후의 결과 또한 중복되는 현상이 수정되었습니다.
- X축 척도를 제곱근(SQRTScale X 옵션) 형식으로 변경한 다음 마우스의 스크롤 휠을 사용하여 Measured Response 보기를 확대했다가 축소하는 경우 X축이 뒤집히는 현상이 수정되었습니다.
저희 델타이에스는 Simcenter T3STER Master 를 위한 다수의 전문가가 직접 고객 여러분을 위해 고객 지원을 아끼지 않고 있습니다.
제품 관련 문의는 아래와 같이 부탁드립니다.
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